超声探伤—UT
LEPTOSKOP2042NFE涂层测厚仪
产品品牌:德国卡尔德意志(德国KD)
产品型号:
市场价格:询价
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产品说明:
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。
技术参数:
仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合,同时提供10种可供任意选择的语言,以满足客户的各种需求。
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042是一种经济的产品,电池寿命长,可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量,因此一些重要的参数可以被保存。
彩色的橡胶皮套也是在供货范围内,可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。
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大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯
校准选项
出厂时已校准,立即可用
在未知涂层上校准*
零校准*
在无涂层的基体上一点和多点校准*
在有涂层的基体上校准*
校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中,也可以随时调出
可选择的显示模式,以最佳形式去完成测量任务*
输入和极限监视*
在Windows下有简单的存储读数档案管理*
可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport
统计*
可统计评估999个读数
最小值、最大值、测量个数、标准偏差和极限监视
局部厚度和平局膜层厚度(DIN EN ISO 2808)
在线统计,所有统计值概括
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